X射線測厚儀|X-RAY鍍層分析儀|菲希爾X射線光譜儀FISCHERSCOPE®-X-RAY XDL-210又名X 射線熒光光譜儀，采用手動或自動方式，測量和分析印刷線路板、防護及裝飾性鍍層及大規模生產的零部件上的鍍層。
FISCHERSCOPE X-RAY XDL 210比例接收器能實現高計數率，這樣就可以進行高精度測量。由于采用了Fischer 基本
參數法，無論是鍍層系統還是固體和液體樣品，都能在沒有標準片的情況下進行分析
和測量。多可同時測量從氯（17）到鈾（92）中的24 種元素。
XDL 型X 射線光譜儀有著良好的長期穩定性，這樣就不需要經常校準儀器。
XDL 系列儀器特別適用于客戶經行質量控制、進料檢驗和生產流程監控。
X射線測厚儀|X-RAY鍍層分析儀|菲希爾X射線光譜儀FISCHERSCOPE®-X-RAY XDL-210典型的應用領域有：
? 測量大規模生產的電鍍部件
? 測量薄鍍層，例如裝飾鉻
? 測量電子工業或半導體工業中的功能性鍍層
? 全自動測量，如測量印刷線路板
? 分析電鍍溶液
X射線測厚儀|X-RAY鍍層分析儀|菲希爾X射線光譜儀FISCHERSCOPE®-X-RAY XDL-210設計理念
FISCHERSCOPE
X-RAY XDL 設計為界面友好的臺式測量儀器系列。我們會根據樣
品平臺的運行模式以及固定或者可調節的Z 軸系統來設定不同型號的儀器以滿足實際
應用的需求。
XDL210：平面樣品平臺，固定的Z 軸系統
高分辨率的彩色視頻攝像頭具備強大的放大功能，可以精-確定位測量位置。通過視頻
窗口，還可以實時觀察測量過程和進度。配有馬達驅動X-Y 樣品平臺的儀器還配備了
激光點，可以輔助定位并快速對準測量位置。
測量箱底部的開槽專為大而扁平的樣品設計，可以測量比測量箱更長和更寬的樣品。
例如大型的線路板。
所有的操作，測量數據的計算，以及測量數據報表的清晰顯示都是通過強大而界面友
好的WinFTM®軟件在電腦上完成的。
XDL 型光譜儀是安-全而保護**的測量儀器，型式許可符合德國“Deutsche
R?ntgenverordnung-R?V”法規規定。
X射線測厚儀|X-RAY鍍層分析儀|菲希爾X射線光譜儀FISCHERSCOPE®-X-RAY XDL-210通用規范
用途
能量色散X 射線熒光光譜儀 (EDXRF) 用來測量薄鍍層和微小結構，分析合金和微量組分。
元素范圍 多同時測量從氯（Cl 17）到鈾（U 92）之間的24 種元素
設計理念 臺式儀器，測量門向上開啟
測量方向 從上到下
X射線測厚儀|X-RAY鍍層分析儀|菲希爾X射線光譜儀FISCHERSCOPE®-X-RAY XDL-210X 射線源
X 射線源 帶鈹窗口的鎢管
高壓 三種高壓： 30 kV，40 kV，50 kV，可調整
孔徑（準直器） ? 0.3 mm (可選：圓形? 0.1 mm； ? 0.2 mm；長方形0.3 mm x 0.05 mm)
測量點
取決于測量距離及使用 的準直器大小；實際的測量點大小與視頻窗口中顯示的一致。
小的測量點大小約? 0.16mm.
測量距離，如測量腔體內部
0 ~ 80 mm，未校準范圍，使用保護的DCM 功能
0 ~ 20 mm，已校準范圍， 使用保護的DCM 功能
X 射線探測
X 射線接收器 比例接收器
樣品定位
視頻顯微鏡
高分辨 CCD 彩色攝像頭， 用于查看測量位置
手動調焦或自動聚焦
十字線刻度和測量點大小經過校準
測量區域照明亮度可調
激光點用于精-確定位樣品
放大倍數 20x ~ 180x
(光學變焦: 20x ~ 45x; 數字變焦: 1x, 2x, 3x, 4x)
樣品臺 XDL 210
設計 固定式樣品平臺
-大移動范圍 -
X/Y 平臺移動速度 -
X/Y 平臺移動重復精度 -
Z 軸移動范圍 -
可用樣品放置區域 463 x 500 mm
樣品-大重量 20 kg
樣品-大高度 155/90/25 mm
激光定位點 -
FISCHERSCOPE
X-RAY XDL
鍍層厚度 材料分析 顯微硬度 材料測試
電氣參數
電壓，頻率 AC 115 V 或 AC 230 V 50 / 60 Hz
功率 -大 120 W (不包括計算機)
保護等級 IP40
X射線測厚儀|X-RAY鍍層分析儀|菲希爾X射線光譜儀FISCHERSCOPE®-X-RAY
XDL-210儀器規格
外部尺寸 寬x 深x 高[mm]：570 x 760 x
650
重量 XDL210：90 kg；XDL220：95 kg ；XDL230：105 kg；XDL240：120 kg
內部測量室尺寸 寬x 深x 高[mm]: 460 x 495 (參考“樣品-大高度”部分的說明)
環境要求
操作溫度 10°C – 40°C / 50°F – 104°F
儲藏或運輸溫度 0°C – 50°C / 32°F – 122°F
空氣濕度 ≤ 95 %，無結露
計算系統
計算機 帶擴展卡的計算機系統
軟件
標準： WinFTM® V.6
LIGHT
可選： WinFTM® V.6
BASIC，PDM，SUPER
X射線測厚儀|X-RAY鍍層分析儀|菲希爾X射線光譜儀FISCHERSCOPE®-X-RAY
XDL-210執行標準，CE 合格標準 EN 61010
X 射線標準 DIN ISO 3497 和 ASTM B 568
型式許可
安-全而保護**的測量儀器，型式許可符合德國“Deutsche
R?ntgenverordnung-R?V”
法規規定。
如有特殊要求，可于Fischer 磋商，定制特殊的XDL 型號。
